bsport体育:汽车AFS的电机驱动方案及应用设计要点

　　近年来，汽车中的电子成分不断提升，帮助提升燃油经济性，减少排放，增强安全、照明、车载网络及信息娱乐系统等。其中，汽车前照灯是安全驾驶的一个重要环节，安森美半导体创新及领先行业的汽车自适应前照灯系统（Adaptive Front-lighting System， AFS）电机驱动方案克服传统前照灯的局限，帮助提升行车安全性。本文分析AFS的特性，介绍安森美半导体的AFS方案，以及应用设计要点，帮助客户应用汽车AFS方案。

　　传统汽车前照灯的灯光跟车身方向始终一致，在汽车转弯时无法有效照明弯道内侧的盲区，如果弯道内侧恰好存在人或物体，而车速又未恰当降低，则会带来安全隐患，如图1所示。相比较而言，AFS功能可以提供旋转（swiveling）调节效果，能够根据方向盘的角度转动，把有效的光束投射到驾驶者需要看清的前方路面上，帮助降低安全隐患。

　　除了能够进行动态旋转调节，AFS功能还能提供动态水平高度调节。此功能根据负载轴传感器的信号来调节前照灯的水平高度，可以适应不同的负载及不同的斜坡环境。如图1右侧中，上图是AFS功能在正常水平条件下的灯光投身效果，中图是在汽车启动或上坡时路面颠簸条件下灯光上扬效果，下图是在刹车或下坡条件下的灯光水平下沉照明效果。可见AFS可根据车身水平倾斜情况动态调节灯光高度，改善照明效果，增强安全性。AFS工作原理结构图分别如图2和图3所示。

　　汽车AFS的旋转及水平高度调节，是各使用一个步进电机来实现的，电机根据车辆四周的众多传感器反馈的数据作出反应，故设计人员需要采用适合的步进电机驱动方案，且安放在适合的位置。

　　控制AFS功能的步进电机驱动器的安放位置有两种选择。一种方法称为直接驱动，典型产品如NCV70522。这种方案中，步进电机驱动芯片安装在跟主微（MCU）同一印制电路板（PCB）上。此电路板离前照灯部件及相关步进电机较远，而每个电机需要与对应的信号连接。

　　另一种方法是机电一体化，典型产品如AMIS-30623。在这种方法中，步进电机驱动IC能够直接安装在步进电机结构内，仅需共享地线与LIN总线信号连接。这种方法极为有益，因为MCU与机电一体化模块的接口连接只需要低电磁兼容性的总线。机电一体化方法采用模块化设计，前照灯组件的维修保养方便，好处明显。这两种方法的结构示意图如图4所示。

　　安森美半导体提供多种多样的步进电机驱动器产品，如AMIS-30621、AMIS-30623、NCV70627、NCV70521及NCV70522等。这些产品中， AMIS-30621、AMIS-30623及NCV70627采用LIN通信，而NCV70521及NCV70522采用SPI通信。其中，AMIS-30623是一款单芯片微步进电机驱动器。它是通过LIN建立与主机远程连接的专用机电一体化方案。该芯片通过总线接收定位指令，随后驱动电机线圈到所需位置，可配置电流、速度、加速度和减速度等参数。该芯片自带电机堵转侦测。

　　NCV70522则是一款带稳压器及看门狗功能的SPI通信步进电机驱动IC。这单芯片微步进电机驱动器具有输出电流选择性、SPI接口、嵌入式5V稳压器和看门狗复位等特性。该芯片接收通过一个输入引脚脉冲信号启动“下一步微步”命令，输出线圈电流、微步数等参数。集成的SPI总线允许参数设定及诊断反馈。NCV70522的典型应用电路图如图6所示。

　　我们以NCV70522为例，介绍这芯片在AFS应用中的设计要点。NCV70522的控制要素包括步幅模式、NXT输入及电机运转方向（DIR）控制等。

　　NCV70522包含速度及负载角（SLA）输出，配合创建停转检测算法及控制环路，以根据电机的反电动势（BEMF）来调节转矩和速度。

　　CLR引脚为低电平（0）时，器件在正常模式；CLR引脚为高电平（1）时，器件复位。复位号器件内部寄存器值被清除为初始化值。

　　4） 设置线提供多种输出电流模式，可以通过SPI来对寄存器CUR［4:0］设定来选择。更改后的电流会在下一个脉宽调制（PWM）周期更新。

　　NCV70522提供从整步到32微步共7种中模式供选择，可以通过SPI对寄存器SM［2:0］来设定。

　　NXT信号用于控制电机的步幅（step）位置，根据电流表对应的Ix和Iy信息，进入下一步（step）。即使电机运转没有启用时，step位置一样被改变，只是Ix，Iy不输出。

　　AFS应用中步进电机有时可能会堵转。一旦电机堵转，电子控制单元（ECU）将失去前照灯位置的跟踪信息并作出不恰当的反应，滋生极严重的安全问题，所以AFS应用中堵转检测是必不可少。

　　NCV70522微步步进电机驱动器透过SLA引脚提供BEMF输出，这表示它能实时进行停转检测计算，并根据不同条件来调节检测等级。具体而言，此BEMF电压在每个所谓的“线圈电流过零”期间采样。每个线圈在每个电气周期内存在2个零电流位置，因而每个电气周期共有4个过零观察点，故可以测量4次BEMF。如果4个“线 V，那么就处于堵转状态。我们需要连续2个以上的电气周期都认定为堵转才为线的堵转检测功能